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Niton 分析儀X 射線熒光技術信息
點擊次數(shù)：252 更新時間：2025-07-04
Niton 分析儀依托前沿的能量色散 X 射線熒光（EDXRF）技術，構建起一套完整且智能的元素分析生態(tài)系統(tǒng)。該技術以物理學中的光電效應和特征 X 射線理論為基石，當儀器發(fā)射的高能初級 X 射線束精準轟擊樣品表面時，元素原子內(nèi)層電子因獲得足夠能量被激發(fā)產(chǎn)生空穴，外層電子隨即躍遷填補，在此過程中釋放出具有 "指紋" 特征的 X 射線熒光。
儀器配備的高分辨率硅漂移探測器（SDD）采用半導體材料制成，具備納米級的能量分辨率和超快響應速度，能夠精準捕捉這些微弱的能量信號。在 Axon 技術平臺的加持下，通過智能算法對原始數(shù)據(jù)進行實時降噪處理，利用機器學習模型對復雜光譜進行解卷積分析，從而有效消除元素譜線重疊干擾
