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菲希爾鍍金層測厚儀FISCHER代理信息
點擊次數:409 更新時間:2025-04-26

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240儀器特點

  1. 用途廣泛的鍍層厚度測量

    • 通過組合高壓和濾片,可精準測量極薄(如50 nm Au)至較厚(如100 μm Sn)的鍍層,覆蓋多種厚度需求 

  2. 高精度微聚焦技術

    • 配備微聚焦X射線管,最小測量點可達100 μm,適用于微小結構(如連接器、觸點)的精細檢測 

  3. 高效計數率與穩定性

    • 比例計數器支持高達數千cps(每秒計數率),確保快速測量和良好的重復精度,即使短時間測量也能保證結果可靠性 

  4. 便捷的樣品放置設計

    • X射線源位于測量艙底部,射線方向從下至上,結合大容量C型開槽艙體,便于放置大尺寸或扁平樣品(如印刷線路板) 

  5. 靈活的測量配置

    • 支持手動或自動切換準直器與濾片,適應不同鍍層材料和結構(如多層鍍層、同元素鍍種) 


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