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在完整版本中，F(xiàn)ischeScope®MMS®PCB BLRP可用于PC板生產(chǎn)中的多功能涂層厚度測量。
觸點(diǎn)上的金涂層、焊盤和焊痕上的錫鉛合金涂層以及光阻涂層均采用β反向散射法、方法（Betascope®插件測試模塊）進(jìn)行測量。
用改進(jìn)的方法測量了栓孔表面覆銅厚度和鍍銅厚度。
渦流法（Sigmascope®插件測試模塊）。兩個(gè)渦流探頭可以同時(shí)連接（如ESL08A和ESC2）。
采用電阻法測量多層板和多層板上的銅厚度，探針ERCU不受對(duì)面銅層的影響。
使用渦流法（Permascope®插入式測試模塊）測量銅上的阻焊劑厚度。
集中式測量系統(tǒng)只需選擇適當(dāng)?shù)膽?yīng)用程序就可以執(zhí)行所有這些測量任務(wù)。無論選擇何種測試方法，操作的均勻性都會(huì)將操作員活動(dòng)降至低。測量數(shù)據(jù)可以被存儲(chǔ)、評(píng)估、打印或下載到外部計(jì)算機(jī)。FischeScope®MMS®PCB BLRP為PC板制造商提供了一種經(jīng)濟(jì)的方法來有效測量其所有應(yīng)用程序。

磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178、ASTM B499）：

接觸測量方法。低頻交流勵(lì)磁電流產(chǎn)生低頻磁場。磁通密度取決于測量探頭與鐵磁基板之間的距離。探頭輸出信號(hào)通過拾取線圈產(chǎn)生。該儀器根據(jù)探針特性和合適的數(shù)學(xué)轉(zhuǎn)換模型將測量信號(hào)轉(zhuǎn)換為涂層厚度。

霍爾效應(yīng)（DIN EN ISO 2178）：

接觸測量方法。永磁體產(chǎn)生恒定磁場。磁場強(qiáng)度將與探針和基板之間的距離成比例。利用霍爾效應(yīng)傳感器測量磁場強(qiáng)度，由此計(jì)算出涂層厚度。

渦流法（DIN EN ISO 2360，ASTM B244）

電阻法

β反向散射法（DIN EN ISO 3543、ASTM B567、BS 5411）